测试前准备:根据被测晶体管封装,选择不同测试底座.
2.开启测试仪器(左边红色按钮),显示DY-2993.
3.调用测试参数及测试:调用原来存入的晶体管测试条件和失效判断数据.在复位状态下,即数码显示
“DY-2993″时按调用键,数码管显示”Cd 0”.
此时输入需要调用的晶体管型号,如果输入错误,可以按”C”键清除.
输入正确则按”置数”键确认,数码管显示”DY-2993″,
此时按下”调零”键消除各种漏电流的影响,再把已经判定好 的晶体管BCE脚对号插入测试底座,按下测试键,程序自动对晶体管进行详细测试.
4.合格与不合格的判定:测试PASS,数码管显示FO ***.测试FAIL,数码显示不合格项目,且不合格灯亮起.
1.按下”0(Hfe)”键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录记录d.F值.1.(Vbe)、3(Vces)、5(Iceo)、7(Vcbo)
2.按下”1(Vbe)”键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录记录d.F值.1.(Vbe)、3(Vces)、5(Iceo)、7(Vcbo)
3.按下”3(Vces)”键显示测试结果并进行记录,
4.按下”5(Iceo)”键显示测试结果并进行记录,再按下显示键记录Sd值.PNP记录第四项”Icbo”
5.按下”7(Vbeo)”键显示测试结果并进行记录,
1.将晶体管的”1(Vde)”测试结果进行比较,用最大与最小进行减法运算,其结果不能超出20mV。若不符为FAIL
2.将晶体管的”5(Vde)”测试结果进行比较,用最大值与最小值进行减法运算,其结果不能超出100mV.不符为FAIL
1.用万用表先识别晶体管BCE极,插入设备座对应插口;测试后按”调零”键复位.
2.晶体管测试前先消除漏电流的影响,测试时严重用手触摸晶体管引脚及金属部分,以防电击,高压危险!!
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